ใช่อุณหภูมิโดยรอบมีผลต่อผลการทดสอบของก อุปกรณ์ทดสอบการวิเคราะห์การตอบสนองความถี่กวาดส่วนใหญ่ผ่านกลไกต่อไปนี้:
1. การเปลี่ยนแปลงในการต่อต้านที่คดเคี้ยว:
ความต้านทานของตัวนำเพิ่มขึ้นตามอุณหภูมิที่เพิ่มขึ้น (ตามสูตร r 2= r1 [1+ (t2 - t1)] r2=r1 [1+ (t2 −t1)]
ความต้านทานที่เพิ่มขึ้นนำไปสู่การสูญเสียที่สูงขึ้นในการคดเคี้ยว
ในการวิเคราะห์การตอบสนองความถี่ (FRA) การสูญเสียที่สูงขึ้น (การสูญเสียความต้านทานส่วนใหญ่) ทำให้การลดลงของแอมพลิจูดของเส้นโค้งการตอบสนองโดยเฉพาะอย่างยิ่งในช่วงกลาง - ถึง - ช่วงความถี่สูง สัญญาณความถี่สูง - มีความอ่อนไหวต่อการสูญเสียความต้านทานมากขึ้น
ผลกระทบต่อผลลัพธ์: เมื่ออุณหภูมิสูงขึ้นเส้นโค้งการตอบสนองทั้งหมดโดยเฉพาะอย่างยิ่งกลาง - เป็น - ส่วนความถี่สูงจะเลื่อนลงในแอมพลิจูด (กลายเป็นลบมากขึ้น) สิ่งนี้สามารถปกปิดคุณสมบัติการเสียรูปที่คดเคี้ยวของแท้หรือสร้างสิ่งประดิษฐ์ที่คล้ายกับการเสียรูปเล็กน้อย (เช่นการลดแอมพลิจูดโดยรวม)
2. ค่าคงที่และผลคงที่และ capacitive:
ความจุแบบกระจายอยู่ระหว่างการหมุนของหม้อแปลง, เลเยอร์, แผ่นดิสก์และพื้นดิน ความจุเหล่านี้มีการสร้างเส้นโค้งการตอบสนองความถี่อย่างยิ่ง
ค่าคงที่ไดอิเล็กทริกของวัสดุฉนวน (เช่นน้ำมัน, กระดาษ) เปลี่ยนไปตามอุณหภูมิ โดยทั่วไปจะเพิ่มขึ้นเมื่ออุณหภูมิสูงขึ้น
ค่าคงที่ไดอิเล็กตริกที่เพิ่มขึ้นจะเพิ่มค่าของความจุแบบกระจายเล็กน้อย
ผลกระทบต่อผลลัพธ์: การเปลี่ยนแปลงความจุเปลี่ยนความถี่เรโซแนนท์ของวงจร สิ่งนี้อาจทำให้เกิดการเปลี่ยนแปลงเล็กน้อยในตำแหน่ง (จุดความถี่) ของยอดเขา/dips บนเส้นโค้งการตอบสนองความถี่ ในขณะที่โดยทั่วไปจะมีความสำคัญน้อยกว่าการเปลี่ยนแปลงแอมพลิจูดที่เกิดจากการเปลี่ยนแปลงความต้านทานผลกระทบนี้ต้องการการพิจารณาสำหรับการเปรียบเทียบความแม่นยำหรือการวินิจฉัยที่มีความแม่นยำสูง
3. ความเครียดของกลไกเกี่ยวกับขดลวด (เล็กน้อยและทางอ้อม):
การเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิที่รุนแรงหรืออย่างรวดเร็วอาจทำให้เกิดการขยายตัวของความร้อน/การหดตัวของวัสดุภายใน (ตัวนำ, ฉนวน, รองรับ), สร้างความเครียดเชิงกลเล็กน้อย
ผลกระทบต่อผลลัพธ์: ในทางทฤษฎีสิ่งนี้อาจทำให้เกิดการเปลี่ยนแปลงที่เล็กมากและอาจย้อนกลับได้ในรูปทรงเรขาคณิตที่คดเคี้ยว การเปลี่ยนแปลงเหล่านี้มักจะบอบบางเกินไปสำหรับการตรวจจับที่เชื่อถือได้โดยผู้ทดสอบการเสียรูปที่คดเคี้ยว (ซึ่งกำหนดเป้าหมายการกระจัด/การเสียรูปอย่างมีนัยสำคัญทางกล) แต่ในกรณีที่สำคัญอาจส่งผลกระทบอย่างอ่อนแอต่อผลการทดสอบการทำซ้ำ
4. การดริฟท์อุณหภูมิของผู้ทดสอบเอง (ต้องการความสนใจ):
พารามิเตอร์ประสิทธิภาพของส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ภายในเครื่องทดสอบ (แอมพลิฟายเออร์, ตัวกรอง, ADC, ฯลฯ ) อาจลอยไปเล็กน้อยเมื่อมีการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิโดยรอบ
ผลกระทบต่อผลลัพธ์: เครื่องมือคุณภาพสูงที่ทันสมัย - ได้รับการออกแบบมาเพื่อลดการดริฟท์นี้และลดผลกระทบของมันผ่านการสอบเทียบ อย่างไรก็ตามภายใต้อุณหภูมิที่สูงหรือด้วยเครื่องมือสิ้นสุด - ที่ต่ำกว่าอุณหภูมิของผู้ทดสอบสามารถแนะนำข้อผิดพลาดการวัดเพิ่มเติมได้